Yüzey Manyeto-optik Kerr Etki Sistemi

DXMOKE serisi manyeto-optik Kerr etkisi sistemi tanıtıldı. Verimli ve özellik açısından zengin bir cihaz olarak, uzunlamasına, enine ve polar Kerr dönüş açısının veya eliptikliğin histerezis döngüsünü doğrudan elde etme yeteneğine sahiptir. Ayrıca, zorlayıcı kuvvet ve doymuş manyetik alanlar gibi temel manyetik özellikleri doğru bir şekilde ölçme yeteneğine sahiptir ve manyeto-optik Kerr etkisi Sistemi (MOKE), manyetik ince filmler, manyetik nanoyapılar ve spintroniklerin keşfinde mükemmel performansını ve geniş uygulama beklentilerini göstermiştir.

Fizik alanında manyeto-optik Kerr etkisi (MOKE) veya yüzey manyeto-optik Kerr etkisi (SMOKE), manyeto-optik etkinin önemli bir tezahürü olarak, ışığın mıknatıslanmış bir yüzeyden yansımasıyla oluşan değişiklikleri açıklar. Not: Kerr Açısı, numunenin yüzeyine ışınlandıktan sonra doğrusal polarize ışığın polarizasyon yönünün dönme Açısını ifade eder ve bu Açının değişimi doğrudan numunenin manyetik özelliklerini yansıtır. Kerr eliptikliği, eliptikliğin matematiksel kavramından farklı olsa da aynı derecede önemlidir. Yansıma sırasında eliptik polarize ışığa dönüştükten sonra doğrusal polarize ışığın yarı büyük ekseni ile yarı küçük ekseni arasındaki orandır ve bu oran bize numunenin manyetik özellikleri hakkında da değerli bilgiler sağlar.

sistem

1. TTL modülasyonlu düşük gürültülü lazer ışık kaynağının kullanımı: Daha saf ve kararlı bir ışık kaynağı sinyali elde etmek için, lazer ışık kaynağının gürültü seviyesini etkili bir şekilde azaltmak için TTL modülasyon teknolojisini kullanıyoruz.
2. Işık yoğunluğu sinyallerini almak için yüksek hassasiyetli fotoelektrik sensör kullanın: Zayıf ışık yoğunluğu değişimlerinin doğru bir şekilde yakalanabilmesini sağlamak için, sinyallerin doğru bir şekilde alınmasını sağlamak amacıyla yüksek hassasiyetli fotoelektrik sensör tüpleri kullanıyoruz.
3. Faz-kilitli yükselteçlerle frekans-kilitli sinyallerin edinimi: Faz-kilitli yükselteçleri tanıtarak, frekans-kilitli sinyallerin doğru bir şekilde edinilmesini sağlıyor, sinyal işlemenin verimliliğini ve doğruluğunu artırıyoruz.
4. Düşük gürültü, yüksek çözünürlük, yüksek kararlılık: Sistemimiz, doğru ve güvenilir ölçüm sonuçları sağlamak, kullanıcılara yüksek kaliteli bilimsel araştırma deneyimi sağlamak için düşük gürültüye, yüksek çözünürlüğe ve yüksek kararlılığa dikkat edecek şekilde tasarlanmıştır.
5. Yüksek oranda entegre optik cihazlar: Kullanıcıların rahatlığı için, tüm optik cihazlar için yüksek oranda entegre tasarımlarımız var. Kullanıcı sadece örneği yerleştirir ve Kerr sinyalini kolayca elde etmek için örnek çubuğunu ince ayarlar, bu da çalışma sürecini büyük ölçüde basitleştirir.
6. Entegre Kerr etkisi ölçümü ve manyetik alan gözlem mikroskobu gözlemi: Sistemimiz sadece Kerr etkisi ölçümü fonksiyonuna sahip olmakla kalmayıp, aynı zamanda 6 um'a kadar mikroskobik çözünürlükle manyetik alan gözlem mikroskobunu da entegre ederek, kullanıcılara daha kapsamlı bir manyetik özellik araştırması aracı sağlar.
7. Vakum altında yerinde ölçüm: Farklı deney koşulları altında ölçüm ihtiyaçlarını karşılamak için sistemimiz, çeşitli manyetik alan ve düşük sıcaklık seçenekleri sunarak vakum ortamında yerinde ölçümü destekler ve kullanıcılara daha esnek bilimsel araştırma araçları sağlar.

sistem

1. Tek nokta döngü testi: Sistem, manyeto-optik Kerr etkisi özelliklerini tek bir noktada doğru bir şekilde ölçmek için uzunlamasına, enine ve polar Kerr etkisi testlerini destekler.

2. Bölgesel haritalama fonksiyonu: Numuneyi yukarı, aşağı, sola ve sağa hassas bir şekilde hareket ettirerek sistem, numunenin yüzeyindeki farklı noktalarda manyeto-optik Kerr etkisini test edebilir, bölgesel haritalama gerçekleştirebilir ve numunenin manyetik enerji dağılımını tam olarak anlayabilir.

3.Dönen numune veya manyetik alan fonksiyonu: Sistem, kullanıcının numuneyi veya manyetik alanı 360 derece döndürerek malzemenin mıknatıslanma zorluk eksenini belirlemesine ve anizotropiyi daha ileri düzeyde test etmesine olanak tanır.

4.Manyetoelektrik kuplaj test arayüzü: Numune tutucu, kullanıcıların manyetoelektrik etkileşim altında malzemenin performansını incelemek için manyetoelektrik kuplaj testine katılmasını kolaylaştıran bir elektriksel arayüze sahiptir.

5. Entegre mikroskop ve yüksek hızlı CCD sistemi: Sistem, yalnızca malzemenin yüzey morfolojisini gözlemlemekle kalmayıp aynı zamanda polarizatörün eklenmesinden sonra manyetik alandaki değişiklikle ışık noktasının yoğunluk dağılımındaki farkı da tespit edebilen yüksek hızlı CCD ve mikroskop sistemini entegre ederek manyetik alan bilgilerini doğru bir şekilde elde eder.

Kerr açısı çözünürlüğü: 0.001 dereceden az;

Elips çözünürlüğü: %0,1'den az;

Minimum nokta: 10 mikron;

Maksimum manyetik alan: 2.2T (EM7 elektromıknatısını seçin);

Dönme açısı adımı 0.1 derecedir ve yukarı, aşağı, sol ve sağ yer değiştirme adımları 10 mikrondur;

Gürültü: %1'den az.

Sıcaklık aralığı: 100K ~ 300K;
Sıcaklık kontrol hassasiyeti: ±0.01 derece;
Soğutma süresi: 30 dk ila 100K;
Isınma hızı: 0.01 ~ 30 derece /dak;
Numune vakum ortamındadır;
Manyeto kaynaklı optik rotasyonu en aza indirmek için K9 cam optik pencere.

Deniz, hava ve ekspres teslimat seçenekleri dahil olmak üzere çok çeşitli nakliye gereksinimlerine hitap ediyoruz. Amacımız, müşterilerin belirli ihtiyaçları için en iyi nakliye yöntemini seçme esnekliğine sahip olmalarını ve aynı zamanda zamanında ve uygun maliyetli hizmet almalarını sağlamaktır.