Manyetik Alan Araştırma İstasyonu

Bu kriyojenik sondaj istasyonu (opsiyonel: yüksek sıcaklık, düşük sıcaklık, vakum, manyetik alan), yarı iletken malzemelerin, mikro-nano aygıtların, manyetik malzemelerin, spintronik aygıtların ve ilgili teknik alanların elektriksel ve manyetik özelliklerini test etmek için tasarlanmış, yüksek hassasiyetli, çok işlevli bir deney platformudur.

1. Yüksek hassasiyetli deney platformu: Deney istasyonunda, küçük numuneleri doğru bir şekilde çalıştırıp test edebilen, yüksek hassasiyetli deplasmanlı bir deney kolu bulunmaktadır.

2. Çok işlevli yapılandırma: Kullanıcı ihtiyaçlarına göre, çeşitli karmaşık deneysel ortamların ihtiyaçlarını karşılamak için yüksek sıcaklık, düşük sıcaklık, vakum, manyetik alan ve diğer yapılandırmalar seçilebilir.

3. Yüksek kararlılıkta manyetik alan: Dikkatle tasarlanmış bir manyetik alan sistemi ile yüksek hassasiyetli bipolar sabit akım güç kaynağının bir araya getirilmesiyle manyetik alanın yüksek kararlılığı sağlanır.

4. Deplasman aşaması tasarımı: Deplasman aşaması, iki boyutlu hareket ve numune aşamasının yatay yönde 360- derece dönmesini sağlamak için manyetik bir sıvı conta ile donatılmıştır ve işlem esnek ve uygundur.

5. Mikroskobik gözlem: Yüksek hassasiyetli elektron mikroskobu ile donatılmış olması, kullanıcıların küçük örnekleri detaylı bir şekilde gözlemlemelerini ve çalıştırmalarını kolaylaştırır.

Bu sondaj istasyonu, yarı iletken endüstrisi, mikro-elektromekanik sistemler, süperiletkenlik, elektronik, ferroelektronik, fizik, malzeme bilimi ve biyotıp gibi ancak bunlarla sınırlı olmayan alanlarda yaygın olarak kullanılmaktadır:

Manyetik performans testi

Mikrodalga performans testi

DC, RF performans testi

MEMS performans testi

Süperiletkenlik performans testi

Nano devrelerin, kuantum noktalarının ve tellerin fotoelektrik performans testi

Yüksek ve düşük sıcaklık vakum ortamında çip testi

Malzeme testi

Salon testi

Elektromanyetik iletim performans testi vb.

Farklı kullanıcıların ihtiyaçlarını karşılamak amacıyla, aşağıdakileri içeren bir dizi isteğe bağlı aksesuar sunuyoruz:

Çeşitli DC problar, yüksek frekanslı problar, aktif problar

Kablolu CCD veya C-MOS video görüntüleme cihazı

Vakumlu hareket cihazı elektromıknatıs sistemi/süperiletken mıknatıs sistemi

1Mpa pozitif basınç sistemi yükseltmesi

Ultra yüksek sıcaklık yükseltme seçeneği

Ultra yüksek vakum yükseltme seçeneği

Çeşitli sondaj fikstürleri

Ekranlı kutu titreşim önleyici masa

Adaptör

Sessiz vakum pompası vb.

Satın almadan önce parametre onayı:

Test edilmesi gereken yonga veya cihazların maksimum inç sayısı; parçaların mı yoksa tek çiplerin mi test edilmesi gerektiği; en küçük tek çip boyutu;

Prob istasyonunun mekanik hassasiyet gereksinimi ne kadardır;

Nokta ölçüm örneğinin elektrot boyutu; 100μm*100μm veya 60μm*60μm ped, veya FIB tarafından yapılan mini ped, veya IC içindeki metal devre;

Noktasal ölçüm için aynı anda en fazla birkaç proba ihtiyaç vardır;

Prob kart testinin kullanılıp kullanılmayacağı;

Optik mikroskobun minimum çözünürlüğü ne kadar olmalıdır;

Mikroskopi açısından, LC sıvı kristal sıcak nokta tespiti için polarizatör eklemek gerekli midir;

Prob nokta testi sırasında akım gereksinimi 100fa'ya veya altına ulaşıyor mu! Düşük kapasitans gereksiniminin 0,1pf olması gerekiyor mu; Radyo frekansı gereksinimi var mı;

Bağlı test cihazı arayüzleri nelerdir;

Ortamı test ederken ısıtma mı yoksa soğutma mı gerektiği! Kapalı bir boşluk gerekip gerekmediği;

Chuck'ın sızıntı gereksinimleri hakkında ne düşünüyorsunuz? Düşük empedanslı bir chuck eklemeniz gerekiyor mu?

Anti-şok masasına ihtiyaç olup olmadığı;

Darbeye dayanıklı bir masa eklerseniz, basınçlı hava olup olmadığını kontrol edin.

Kriyojenik Sondaj İstasyonunun daha fazla resmi

Lojistiğin alışveriş deneyimini geliştirmedeki kilit rolünün farkındayız, bu nedenle sizin için özel olarak tasarlanmış verimli, güvenli ve güvenilir lojistik ve taşıma ağları tasarlamaya kendimizi adadık. Ürünlerinizin varış noktanıza zamanında ve güvenli bir şekilde ulaşmasını sağlamak için birçok tanınmış lojistik sağlayıcısıyla uzun vadeli ve güçlü ortaklıklar kurduk. Ayrıca, ürünün taşıma durumunu anlamanızı sağlamak için kapsamlı bir takip hizmeti sağlıyoruz. Müşterilere öncelik veriyoruz, hizmet kalitemizi sürekli olarak iyileştirmeye çalışıyoruz ve size mükemmel bir alışveriş deneyimi sunmak için çabalıyoruz.

Soru 1: Yüksek ve düşük sıcaklık vakum problarının mikro gözlem ve görüntüleme yetenekleri nelerdir?

Cevap:

1. Yüksek çözünürlük: Prob masası, numunenin yüzeyinin görünümünü ve yapısını gerçek zamanlı olarak gözlemleyebilen yüksek çözünürlüklü bir mikroskop sistemiyle donatılmıştır. Bu, araştırma cihazlarının görünüm özellikleri, kusur analizi ve malzeme temsili için hayati önem taşır.

2. Görüntüleme yetenekleri: Mikroskop sistemleri genellikle farklı örnekleri ve deneysel ihtiyaçları karşılamak için optik görüntüleme, elektronik görüntüleme vb. gibi çeşitli görüntüleme modlarına sahiptir. Bu görüntüleme desenleri zengin görüntü bilgisi sağlayabilir ve araştırmacıların örneğin doğasını anlamalarına yardımcı olabilir.

Soru 2: Yüksek ve düşük sıcaklık vakum problarında veri toplama ve analiz yazılımının işlevleri nelerdir?

Cevap:

1. Gerçek zamanlı toplama: Elektriksel, mikro ve malzeme analiz verilerinin gerçek zamanlı olarak toplanabilmesi için sondaj masasının gelişmiş veri toplama ve analiz yazılımlarıyla donatılması gerekir.

2. İşleme ve analiz: Veri toplama yazılımları genellikle görüntü işleme, veri uyumu ve üç boyutlu yeniden yapılandırma gibi birden fazla veri işleme ve analiz işlevine sahiptir.

Soru 3: Yüksek ve düşük sıcaklık vakum problarının mikro gözlem ve görüntüleme kabiliyetleri açısından özellikleri nelerdir?

Cevap:

Yüksek çözünürlük: Prob masası, numunenin yüzeyinin görünümünü ve yapısını gerçek zamanlı olarak gözlemleyebilen yüksek çözünürlüklü bir mikroskop sistemiyle donatılmıştır. Bu, araştırma cihazlarının görünüm özellikleri, kusur analizi ve malzeme temsili için hayati önem taşır.

Görüntüleme yetenekleri: Mikroskop sistemleri genellikle farklı örnekleri ve deneysel ihtiyaçları karşılamak için optik görüntüleme, elektronik görüntüleme vb. gibi çeşitli görüntüleme modlarına sahiptir.